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Microscopia a forza atomica AFM
La strumentazione consiste in un microscopio AFM/STM Thermomicroscope Autoprobe CP Research. E' possibile effettuare misure di topografia in contact, non-contact e contatto intermittente; misure LFM, phase modulation,STM a basse correnti.
E' dotato di due scanner:
- Large aerea scanner 100x100x7.5 micron
- High resolution scanner 5x5x1.5 micron
E' dotato di una Micro-cella per misure in ambiente liquido e di un sistema piezolettrico aggiuntivo per eseguire misure di Force Modulation
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Particolare del microscopio AFM Thermomicroscope CP research
Immagine SEM di una punta AFM
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