Sistema AFM/STM in UHV a temperatura variabile    

Apparato di analisi, in ultra alto vuoto (UHV) dotato di un miscroscopio a effetto tunnel (STM) e a forza atomica (AFM) con la possibilità di variare la temperatura del campione da 25 a 1500 K (Omicron VT SPM). Il microscopio raggiunge la risoluzione atomica sia nella modalità AFM sia in quella STM. E' equipaggiato con un evaporatore a fascio elettronico in grado anche di funzionare (solo nella modalità STM) durante la misura STM stessa. E' dotato di una camera di preparazione con un cannone ionico, un LEED/Auger e un sistema di riscaldamento e-beam. Lo strumento è inoltre dotato di una camera di analisi predisposta eventualmente per alloggiare ulteriori tecniche per la caratterizzazione superficiale (XPS monocromatico).

Questo apparato di caratterizzazione in situ è connesso mediante trasferitori in vuoto al sistema per la deposizione di materiali per ablazione laser PLD.

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Sistema STM / AFM in UHV


Sistema di trasferimento in situ

Laboratorio Materiali Micro e Nanostrutturati, Dipartimento di Energia Politecnico di Milano Via Ponzio 34/3 I-20133 Milano